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上海华力微电子取得缺陷源检测方法专利

游戏天地 2025年08月27日 02:33 1 admin

金融界2025年8月26日消息,国家知识产权局信息显示,上海华力微电子有限公司取得一项名为“缺陷源检测方法”的专利,授权公告号CN116468712B,申请日期为2023年04月。

上海华力微电子取得缺陷源检测方法专利

本文源自金融界

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