美矽微视觉申请多特征芯片缺陷检测方法专利，降低芯片表面缺陷检测中的误判率

游戏天地 2025年08月16日 21:48 1 admin

金融界2025年8月16日消息，国家知识产权局信息显示，深圳市美矽微视觉技术有限公司申请一项名为“一种多特征芯片缺陷检测方法”的专利，公开号CN120495307A，申请日期为2025年07月。

专利摘要显示，一种多特征芯片缺陷检测方法，包括：获取包括目标芯片的检测区图像；根据标准芯片图像模板匹配目标芯片的绑定矩形；根据所述绑定矩形，确定目标芯片的位置和边缘，在所述检测区图像上确定多个检测点；连续检测所述检测点，灰度特征提取，对比检测点灰度值与标准芯片图像模板对应点的标准灰度值；颜色特征提取，计算检测点RGB值与标准芯片图像模板对应点的欧氏距离；纹理特征提取，提取检测点邻域的纹理模式，对比标准芯片图像模板纹理差异；计算该检测点的综合差值，若综合差值大于设定的阈值，则判定为偏移点；否则跳过，并重置连续偏移计数。

天眼查资料显示，深圳市美矽微视觉技术有限公司，成立于2021年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本3000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市美矽微视觉技术有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目4次，专利信息23条，此外企业还拥有行政许可9个。

本文源自金融界