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智芯微电及浙大取得半导体器件界面缺陷测试方法及系统专利

抖音快讯 2025年08月12日 17:14 2 admin

金融界2025年8月12日消息,国家知识产权局信息显示,北京智芯微电子科技有限公司、浙江大学取得一项名为“半导体器件界面缺陷测试方法及系统”的专利,授权公告号CN119689196B,申请日期为2024年12月。

智芯微电及浙大取得半导体器件界面缺陷测试方法及系统专利

本文源自金融界

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