中科飞测申请一种缺陷检测方法和装置等专利更全面检测出缺陷特征

热门资讯 2025年08月05日 13:14 2 admin

金融界2025年8月5日消息，国家知识产权局信息显示，深圳中科飞测科技股份有限公司申请一项名为“一种缺陷检测方法和缺陷检测装置、存储介质”的专利，公开号CN120413449A，申请日期为2024年01月。

专利摘要显示，一种缺陷检测方法和缺陷检测装置、存储介质，首先将待检测图像与参考图像比较，根据第一缺陷判定条件选择出待检测图像中的第一类缺陷像素，之后对于每个第一类缺陷像素，根据第二缺陷判定条件选择出每个第一类缺陷像素的邻域内的第二类缺陷像素，基于第一类缺陷像素和第二类缺陷像素在待检测图像中确定缺陷特征；其中，第二缺陷判定条件较第一缺陷判定条件宽松。由于在初次的缺陷检测后，放宽缺陷判定条件，对已检出的缺陷像素的邻域再次进行检测，基于两次检出的缺陷像素在待检测图像中确定缺陷特征，使得一些较浅缺陷能够被检出，从而更全面地检测出缺陷特征，防止漏检。

天眼查资料显示，深圳中科飞测科技股份有限公司，成立于2014年，位于深圳市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本32000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳中科飞测科技股份有限公司共对外投资了12家企业，参与招投标项目263次，财产线索方面有商标信息255条，专利信息990条，此外企业还拥有行政许可39个。

本文源自金融界