宇宏微半导体申请表贴晶振高低温自动化测试装置及测试方法专利，提高测试效率

游戏天地 2025年08月04日 18:46 1 admin

金融界2025年8月4日消息，国家知识产权局信息显示，深圳市宇宏微半导体有限公司申请一项名为“一种表贴晶振高低温自动化测试装置及测试方法”的专利，公开号CN120405257A，申请日期为2025年03月。

专利摘要显示，本发明公开了一种表贴晶振高低温自动化测试装置及测试方法，属于表贴晶振测试领域。一种表贴晶振高低温自动化测试装置，包括控温箱，固定在控温箱顶部的检测箱，以及固定在检测箱顶部的检测仪，所述检测箱内腔底部固定连接有检测台；本发明通过导温叶片的转动，使得变温后的气体快速向表贴晶振移动，以此加速检测箱内的气流换热速度，使得温度更加快速的传递至表贴晶振上，进而降低了调温所需时间，提高了测试效率；并且通过传动作用，往复推动弹簧伸缩杆碰撞检测台侧壁，进而产生轻微的震动作用，以此模拟出表贴晶振更为真实的使用环境，有效评估表贴晶振在这种条件下工作的稳定性和可靠性，提高了测试结果的代表性。

天眼查资料显示，深圳市宇宏微半导体有限公司，成立于2022年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市宇宏微半导体有限公司专利信息1条，此外企业还拥有行政许可5个。

本文源自金融界