上海集成电路装备申请芯片质量影响因素确定方法相关专利，有效提高确定的影响因素的准确性

百科大全 2025年08月04日 12:43 2 admin

金融界2025年8月4日消息，国家知识产权局信息显示，上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司申请一项名为“芯片质量的影响因素确定方法、装置、设备及介质”的专利，公开号CN120405370A，申请日期为2024年01月。

专利摘要显示，本申请提供一种芯片质量的影响因素确定方法、装置、设备及介质，可用于半导体技术领域。在该方法中，通过对获取到的对晶圆进行恶化实验前进行晶圆测试的第一测试数据进行处理，得到第一测试结果，对获取到的对晶圆进行恶化实验后进行晶圆测试的第二测试数据进行处理，得到第二测试结果；进而根据两个测试结果，生成每个芯片的测试变化数据；再结合每个芯片的参考数据，确定恶化实验对应的因素是否为影响因素。本方案通过对恶化实验前后的测试数据进行处理得到测试变化数据，结合参考数据，确定恶化实验对应的因素是否为影响因素，有效提高了确定的影响因素的准确性。

天眼查资料显示，上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司，成立于2020年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1150000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司参与招投标项目69次，财产线索方面有商标信息14条，专利信息504条，此外企业还拥有行政许可211个。

本文源自金融界